Detector X-ray 16” con dimensione pixel da 100 μm (16 MPixels)
disegnato e ottimizzato con un affidabilità a lungo termine e per un utilizzo industriale ad alte energie
Utilizza fotodiodi di nuova generazione progettati con un'efficienza e una sensibilità 10 volte superiore rispetto ai pannelli tradizionali
Analisi di difetti 2 volte più piccoli senza l'incremento della magnificazione geometrica consente di gestire oggetti più grandi e a maggiore risoluzione
dynamic 41|100 - Detettore Raggi-X con qualità di immagine superiore
Il dynamic 41|100 è il primo prodotto di Waygate Technologies appartenente alla nuova famiglia di pannelli digitali a raggi-X. Con 410 x 410 mm2 di area di rilevazione e 100 µm di dimensione pixel, abbina una qualità di immagine superiore con una maggiore velocità di scansione.
Basato sulla tecnologia proprietaria di pannelli Raggi-X di GE Healthcare X-ray, Waygate Technologies offre il primo pannello a 100 µm, 16M pixel progettato e ottimizzato esclusivamente per un applicazioni intensive in ambiente industriale. La tecnologia proprietaria GE EnduranceTM per gli scintillatori al CSI offre una risoluzione superiore e una luminosità maggiore rispetto ai pannelli convenzionali basati su scintillatori GadOx o simili.
Doppia produttività allo stesso livello di qualità
Grazie ad una sensibilità equivalente o molto maggiore rispetto ai classici pannelli digitali da 200 μm, il nuovo dynamic 41|100 consente una risoluzione 2 volte maggiore senza impatti negativi sulla qualità dell'immagine o sulla durata del pannello e con una tempo di acquisizione significativamente ridotto.
Doppia Risoluzione
Senza la necessita di cambiare i parametri della geometria del sistema, il nuovo pannello digitale 41|100 consente di analizzare oggetti più grandi alla stessa risoluzione grazie alla richiesta di una minor magnificazione geometrica. In alternativa, è possibile eseguire un'analisi con difetti 2 volte più piccoli senza aumentare la magnificazione geometrica
Caratteristiche e Benefici
Detettore X-ray da 16” con dimensione pixel da 100 µm (16 MPixels) per una qualità di immagine superiore, progettato e ottimizzato per un uso continuativo ad elevate energie in ambiente industriale
Immagini ad alta risoluzione per un'analisi accurata ad elevati dettagli (oltre 50 µm con tubi raggi-X minifuoco)
Nuova generazione di fotodiodi progettati con un'efficienza e sensibilità 10 volte maggiore rispetto ai classici pannelli da 200 µm. Questo consente di avere una risoluzione 2 volte maggiore senza inficaire sul tempo di analisi
Analisi di difetti 2 volte più piccoli senza aumentare la magnificazione geometrica consente di gestire oggetti grandi ad una maggior risoluzione
Ridotto tempo di analisi grazie ad una maggior sensibilità del pannello digitale; maggiore frequenza di aggiornamento frame, più ampia area di analisi.
Il pannello dynamic 41 con tecnologia proprietaria GE è disponibile esclusivamente per i clienti con sistemi GE Inspection Technologies
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